CN119666663A 一种全检式面密度仪的校准方法及面密度全检系统 （南京华视智能科技股份有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119666663A

(43)申请公布日2025.03.21

(21)申请号202510192867.X

(22)申请日2025.02.21

(71)申请人南京华视智能科技股份有限公司

地址211800江苏省南京市浦口区林春路3

号

(72)发明人熊根超曹国平朱鹏程

(74)专利代理机构北京索睿邦知识产权代理有限公司11679

专利代理师陈帆

(51)Int.Cl.

G01N9/24(2006.01)

权利要求书2页说明书5页附图6页

(54)发明名称

一种全检式面密度仪的校准方法及面密度

全检系统

(57)摘要

本发明涉及面密度检测校准和面密度全检技术领域，尤其涉及一种全检式面密度仪的校准方法及面密度全检系统，包括S1、线扫全检模块标定；S2、校准模块标定：校准模块为常规“点”状X/β光斑探头或线扫探头检测机构中的窄“线”状X/β光斑探头；当校准模块为窄“线”状X/β光斑探头时，其“线”状的长度方向与幅宽方向平行，或与走带方向平行；S3、线扫全检的实时校

CN119666663A准。利用校准模块对线扫全检模块进行有效的校准，保证全检测量的长期准确性。同时，相比于将整个线扫全检模块移出极片区域进行校准，本发明专利可实现边测量边校准的真