CN119671399A 一种二极管封装质量分析检测方法 （派克微电子(深圳)有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119671399A

(43)申请公布日2025.03.21

(21)申请号202510186297.3

(22)申请日2025.02.20

(71)申请人派克微电子（深圳）有限公司

地址518000广东省深圳市坪山区坪山街

道和平社区金牛西路16号华瀚科技工

业园厂房1栋40306

(72)发明人陈盛隆叶敏

(74)专利代理机构深圳市宏德雨知识产权代理事务所(普通合伙)44526

专利代理师王攀

(51)Int.Cl.

G06Q10/0639(2023.01)

G06Q50/04(2012.01)

权利要求书2页说明书9页附图1页

(54)发明名称

一种二极管封装质量分析检测方法

(57)摘要

CN119671399A本发明公开了一种二极管封装质量分析检测方法，涉及半导体检测技术领域，包括：建立数据集；采集不同型号二极管的生产原料、工艺步骤、工艺参数以及产品性能参数；对数据集进行处理；建立生产原料、工艺步骤、工艺参数与产品性能参数之间的关系式；模型的建立与训练；选择与性能参数关联度大的特征对模型进行交叉训练，直至模型的性能满足预设要求；模型的验证；生成预测性能参数；将获得的实际性能参数与预测性能参数进行比对，生成优化方案；使用优化方案对生产工艺进行优化，直至