研究报告
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透射电子显微分析衍射标定
一、透射电子显微分析概述
1.透射电子显微镜的基本原理
透射电子显微镜(TransmissionElectronMicroscope,TEM)是一种能够提供原子级分辨率的显微镜,其基本原理基于电子束的穿透能力和电子与物质的相互作用。在TEM中,电子束通过样品时,会与样品中的原子发生相互作用,产生各种衍射和散射现象。电子束的波长极短,约为0.005纳米,这使得TEM能够达到非常高的空间分辨率。在TEM中,电子束的加速电压通常在100千伏至300千伏之间,这样产生的电子束具有足够的能量来穿透样品并产生有用的信息。
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