CN119693370A 一种检测晶圆缺陷的方法、存储介质、设备和程序产品 (深圳智现未来工业软件有限公司).docxVIP

  • 1
  • 0
  • 约1.51万字
  • 约 26页
  • 2026-06-11 发布于山西
  • 举报

CN119693370A 一种检测晶圆缺陷的方法、存储介质、设备和程序产品 (深圳智现未来工业软件有限公司).docx

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119693370A

(43)申请公布日2025.03.25

(21)申请号202510206168.6

(22)申请日2025.02.25

(71)申请人深圳智现未来工业软件有限公司

地址518055广东省深圳市南山区西丽街

道西丽社区留仙大道创智云城1标段1栋D座2701

(72)发明人杜云峰蔡雨桐白肖艳夏敏易丛文管健

(74)专利代理机构北京亿腾知识产权代理事务所(普通合伙)11309

专利代理师周良玉

(51)Int.Cl.

G06T7/00(2017.01)

您可能关注的文档

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档