CN119694382A 一种存储器的测试系统及测试方法 （合肥康芯威存储技术有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119694382A

(43)申请公布日2025.03.25

(21)申请号202510191786.8

(22)申请日2025.02.21

(71)申请人合肥康芯威存储技术有限公司

地址230601安徽省合肥市经济技术开发

区宿松路3963号智能装备科技园D3栋

5层

(72)发明人余玉许展榕

(74)专利代理机构上海汉之律师事务所31378

专利代理师李友智

(51)Int.Cl.

G11C29/56(2006.01)

G11C29/50(2006.01)

权利要求书2页说明书12页附图3页

(54)发明名称

一种存储器的测试系统及测试方法

(57)摘要

CN119694382A本发明提供了一种存储器的测试系统及测试方法，测试系统包括测试温箱，用于调控环境温度；处理模块，用以获取环境温度，在不同环境温度下，向存储器发送不同的读写指令及对应的测试数据；以及功耗模块，用于监控存储器的功耗数据；功耗模块还用于将功耗数据传输至处理模块；其中，存储器根据读写指令执行读写操作，将存储器的主控单元的主控温度与闪存单元的闪存温度传输至处理模块；处理模块还用于根据存储器在执行读写操作时的测试数据，计算读写性能值。通过本发明提供的一种存储器的测试系统及测试方法，能够快速测试存储