CN119812164A 半导体器件可靠性测试结构及测试方法 (芯联先锋集成电路制造(绍兴)有限公司).pdfVIP

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  • 2026-06-13 发布于重庆
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CN119812164A 半导体器件可靠性测试结构及测试方法 (芯联先锋集成电路制造(绍兴)有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119812164A

(43)申请公布日2025.04.11

(21)申请号202411891609.2

(22)申请日2024.12.20

(71)申请人芯联先锋集成电路制造(绍兴)有限

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