CN119716501A 用于系统级芯片异常值自适应测试的故障模型构建方法 (合肥工业大学).docxVIP

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  • 2026-06-13 发布于山西
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CN119716501A 用于系统级芯片异常值自适应测试的故障模型构建方法 (合肥工业大学).docx

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119716501A

(43)申请公布日2025.03.28

(21)申请号202510237403.6

(22)申请日2025.03.03

(71)申请人合肥工业大学

地址230000安徽省合肥市屯溪路193号

(72)发明人王秋晨刘波

(74)专利代理机构合肥铭辉知识产权代理事务所(普通合伙)34212

专利代理师张名列

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)

G06N3/0464(2023.01)

G06N20/00(2019.01)

G06N3/0

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