CN119716963A Icf中黑腔壁反照率的原位测量方法、系统及计算机存储介质 (中国工程物理研究院激光聚变研究中心).docxVIP

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  • 2026-06-15 发布于山西
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CN119716963A Icf中黑腔壁反照率的原位测量方法、系统及计算机存储介质 (中国工程物理研究院激光聚变研究中心).docx

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119716963A

(43)申请公布日2025.03.28

(21)申请号202510230769.0

(22)申请日2025.02.28

(71)申请人中国工程物理研究院激光聚变研究中心

地址621900四川省绵阳市绵山路64号

(72)发明人任宽任国利刘杰杜华冰

刘云婷赵航刘耀远董建军杨正华郑建华姚立孙奥

邓克立杨冬李志超吴玉迟王峰

(74)专利代理机构广州粤高专利商标代理有限

公司44102

专利代理师谢皓

(51)Int

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