CN119722669A 一种基于改进YOLOv8x的PCB小目标缺陷检测方法 （大连理工大学）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119722669A

(43)申请公布日2025.03.28

(21)申请号202510220970.0

(22)申请日2025.02.27

(71)申请人大连理工大学

地址116024辽宁省大连市甘井子区凌工

路2号

申请人北京遥感设备研究所

(72)发明人薄洪光李晨阳薛方红卢治兵张丽婷苏裕龙张曼

(74)专利代理机构辽宁鸿文知识产权代理有限

公司21102

专利代理师李宝元

(51)Int.Cl.

G06T7/00(2017.01)

G06V10/25(2022.01)

G06V10/44(2022.01)

G06V10/42(2022.01)

G06V10/52(2022.01)

G06V10/80(2022.01)

G06V10/764(2022.01)

G06V10/74(2022.01)

G06V10/82(2022.01)

G06N3/0464(2023.01)

G06N3/045(2023.01)

G06N3/048(2023.01)

权利要求书2页说明书7页附图2页

(54)发明名称

一种基于改进YOLOv8x的PCB小目标缺陷检

测方法

(57)摘要

CN119722669A本