1. 您所在位置：
  2. 网站首页
  3. 文档分类
  4. 电子工程/通信技术
  5. 电子设计

CN119758018A 集成电路的寿命测试方法及装置 （深圳市中兴微电子技术有限公司）.docxVIP

  • 3
  • 0
  • 约1.63万字
  • 约 25页
  • 2026-06-20 发布于山西
  • 举报

CN119758018A 集成电路的寿命测试方法及装置 （深圳市中兴微电子技术有限公司）.docx

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN119758018A

    (43)申请公布日2025.04.04

    (21)申请号202311289895.0

    (22)申请日2023.09.28

    (71)申请人深圳市中兴微电子技术有限公司

    地址518055广东省深圳市南山区西丽街

    道西丽社区南山区西丽创研路2号中

    兴通讯工业园研2楼二层

    (72)发明人杨丹孙钮一梅娜

    (74)专利代理机构北京天昊联合知识产权代理

    有限公司11112

    专利代理师彭瑞欣张天舒

    (51)Int.Cl.

    G01R31/28(2006.01)

    权利要求书2

    您可能关注的文档

    最近下载

    文档评论（0）

    1亿VIP精品文档

    更多 >

    相关文档

    更多 >