高速并行光互连芯片测试与验证的深度剖析与实践探索.docxVIP

高速并行光互连芯片测试与验证的深度剖析与实践探索

一、引言

1.1研究背景与意义

在数字化进程迅猛发展的当下，数据的处理、存储和传输需求呈现出爆发式增长。无论是云计算中心的数据海量吞吐，还是高性能计算机对大规模并行计算的严苛要求，亦或是5G乃至未来6G通信网络中对高速率、低延迟通信的追求，都对数据传输技术提出了前所未有的挑战。在短距互联领域，基于铜线的电互连技术由于自身物理特性的限制，逐渐难以满足日益增长的高带宽需求。随着传输速率的不断提高，电信号在铜线上传输时，信号衰减和串扰问题愈发严重，这不仅限制了数据的有效传输距离，还导致传输成本大幅上升。与此同时，大量电缆的使用不仅增加了系统