基于扫描探针显微镜的单根四针状氧化锌晶须电阻精确测量方法探究.docx

基于扫描探针显微镜的单根四针状氧化锌晶须电阻精确测量方法探究

一、引言

1.1研究背景与意义

四针状氧化锌晶须（T-ZnOw）作为一种独特的纳米材料，自20世纪40年代被发现，80年代末由日本松下产业成功研制以来，因其特殊的空间三维结构和优异性能，在众多领域展现出广阔的应用前景。其外观为白色疏松状粉体，微观呈三维四针状立体结构，从核心径向伸出四根针状单晶体微纤维，任两根针状体夹角为109°，中心体直径0.7-1.4μm，针状体根部直径0.5-14μm，长度3-200μm，近乎单晶。这种独特结构使其能在基体材料中均匀分布，各向同性地改善材料物理性能，赋予材料多