CN119437843A 一种晶圆样品的聚焦离子束超薄切片制样预处理方法 （广电计量检测(无锡)有限公司）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119437843A

(43)申请公布日2025.02.14

(21)申请号202411860552.X

(22)申请日2024.12.17

(71)申请人广电计量检测（无锡）有限公司

地址214111江苏省无锡市新吴区宁韵路8

号（经营场所:无锡市新吴区珠江路38

号）

(72)发明人陈振明志茂陆裕东储程晨

刘辰韦卫冯英鹏陈军

(74)专利代理机构广州三环专利商标代理有限

公司44202

专利代理师方琦琦

(51)Int.Cl.

G01N1/28(2006.01)

G01N23/20008(2018.01)

G0