GBT 42706.8-2026 电子元器件 半导体器件长期贮存 第8部分：无源电子器件标准立项发展报告.docx

电子元器件半导体器件长期贮存第8部分：无源电子器件标准立项发展报告

EnglishTitle:StandardizationDevelopmentReport:Electroniccomponents—Long-termstorageofelectronicsemiconductordevices—Part8:Passiveelectronicdevices

摘要

随着电子信息技术和装备制造业的飞速发展，电子元器件的长期贮存可靠性问题日益凸显，尤其是在国防、航空航天、通信及工业控制等关键领域，对设备全生命周期的可用性和战备完好性提出了极高要求。无源电子器件作为电子电路的基础组成部分，其长期贮存后的性能退化与失效机制直接影响到系统整体的可靠性与安全性。然而，长期以来，我国在无源电子器件长期贮存领域的标准体系尚不完善，缺乏统一的评价方法、试验程序和贮存指导规范。本标准《电子元器件半导体器件长期贮存第8部分：无源电子器件》（标准编号：GB/T42706.8-2026）正是在此背景下立项编制。本报告系统梳理了标准的立项背景、主要技术内容、关键创新点及预期应用价值。标准规定了无源电子器件（包括固定电阻器、固定电容器、电感器、陶瓷滤波器、晶体振荡器等典型器件）长期贮存的一般要求、加速试验方法、贮存期限评估准则及质量保证程序。通过引入基于Arrhenius