CN119689792A Sraf显影缺陷的检测方法 (芯恩(青岛)集成电路有限公司).pdfVIP

  • 4
  • 0
  • 约1.97万字
  • 约 18页
  • 2026-06-24 发布于重庆
  • 举报

CN119689792A Sraf显影缺陷的检测方法 (芯恩(青岛)集成电路有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119689792A

(43)申请公布日2025.03.25

(21)申请号202411857948.9

(22)申请日2024.12.16

(71)申请人芯恩(青岛)集成电路有限公司

地址266000山东省青岛市黄岛区太白山

路19号德国企业南区401

(72)发明人田亚冬

(74)专利代理机构上海思捷知识产权代理有限

公司31295

专利代理师侯素芹

(51)Int.Cl.

G03F7/20(2006.01)

H01L21/66(2006.01)

G01N21/88(2006.01)

权利要求

您可能关注的文档

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档