CN120142888A 半导体器件负偏置温度不稳定性的测试结构及方法、计算机程序产品 (上海积塔半导体有限公司).pdfVIP

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  • 2026-06-26 发布于重庆
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CN120142888A 半导体器件负偏置温度不稳定性的测试结构及方法、计算机程序产品 (上海积塔半导体有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120142888A

(43)申请公布日2025.06.13

(21)申请号202510378985.X

(22)申请日2025.03.27

(71)申请人上海积塔半导体有限公司

地址201306上海市浦东新区中国(上海)

自由贸易试验区临港新片区云水路

600号

(72)发明人霍彦辰贾超超焦圣杰

(74)专利代理机构上海盈盛知识产权代理事务

所(普通合伙)31294

专利代理师赵娟娟

(51)Int.Cl.

G01R31/26(2020.01)

权利要求书2页说明书9页附图2页

(54)发明名

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