CN119785175A 一种基于小目标增强特征金字塔的pcb缺陷的检测方法 (南京华苏科技有限公司).pdfVIP

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  • 2026-06-27 发布于重庆
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CN119785175A 一种基于小目标增强特征金字塔的pcb缺陷的检测方法 (南京华苏科技有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119785175A

(43)申请公布日2025.04.08

(21)申请号202411853593.6G06N3/0464(2023.01)

G06N3/048(2023.01)

(22)申请日2024.12.16

G06N3/08(2023.01)

(71)申请人南京华苏科技有限公司G06T7/00(2017.01)

地址211300江苏省南京市高淳区淳溪街

道宝塔路258号苏宁雅居39幢10号

申请人淮阴工学院

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