CN120121518A 一种基于电耦合天线技术的涂层老化检测方法 (西安外事学院).pdfVIP

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  • 2026-06-30 发布于重庆
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CN120121518A 一种基于电耦合天线技术的涂层老化检测方法 (西安外事学院).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120121518A

(43)申请公布日2025.06.10

(21)申请号202510371988.0

(22)申请日2025.03.27

(71)申请人西安外事学院

地址710077陕西省西安市雁塔区鱼斗路

18号

(72)发明人王进军钱小川张改莲杨婷

李恩明

(74)专利代理机构深圳快马新生专利商标代理

事务所(普通合伙)44996

专利代理师占龙凤

(51)Int.Cl.

G01N17/00(2006.01)

权利要求书1页说明书6页附图1页

(54)发明名称

一种

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