CN119830031A 采用大数据分析方式对芯片量产测试的垂直量化分析方法 （苏州锐之芯半导体技术有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119830031A

(43)申请公布日2025.04.15

(21)申请号202411972974.6

(22)申请日2024.12.30

(71)申请人苏州锐之芯半导体技术有限公司

地址215614江苏省苏州市张家港市凤凰

镇凤凰大道14号（凤凰科技创业园F幢338室）

(72)发明人刘勃

(74)专利代理机构深圳市康弘知识产权代理有限公司44247

专利代理师徐金杨

(51)Int.Cl.

G06F18/22(2023.01)

G06F18/10(2023.01)

G06F18/23213(2023.01)

G06F18/27(2023.01)

G06F18/2433(2023.01)

G06Q10/0635(2023.01)

G06Q10/0631(2023.01)

G06Q50/04(2012.01)

G01R31/01(2020.01)

G06F123/02(2023.01)

权利要求书3页说明书11页附图4页

(54)发明名称

采用大数据分析方式对芯片量产测试的垂

直量化分析方法

(57)摘要

CN119830031A本发明涉及电子测试技术领域，具体为采用大数据分析方式对芯片量产测试的垂直量化分析方法，包括以下步骤：收集芯