CN119831996A 一种大功率led模组封装的缺陷检测方法及相关设备 （深圳市科润光电股份有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119831996A

(43)申请公布日2025.04.15

(21)申请号202510308505.2

(22)申请日2025.03.17

(71)申请人深圳市科润光电股份有限公司

地址518000广东省深圳市宝安区松岗街

道罗田社区象山大道334-1号A栋202、A栋3楼

(72)发明人范国峰汤功鑫

(74)专利代理机构北京华艺德嘉知识产权代理

有限公司16326

专利代理师王爱军

(51)Int.Cl.

G06T7/00(2017.01)

G06V10/26(2022.01)

G06V10/44(2022.01)

G06V10/80(2022.01)

G06V10/82(2022.01)

G06N3/0464(2023.01)

G06N3/08(2023.01)

权利要求书2页说明书13页附图2页

(54)发明名称

一种大功率LED模组封装的缺陷检测方法及

相关设备

(57)摘要

CN119831996A本申请提供了一种大功率LED模组封装的缺陷检测方法及相关设备，该方法包括：获取大功率LED模组对应多角度拍摄图像的预处理图像；根据深度卷积神经网络模型确定预处理图像的特征向量；通过多尺度融合特征向量生成融合后的目标特征图；对目标特征