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CN119247114A 一种用于检测集成电路性能的测试方法 （电子科技大学成都学院）.pdfVIP

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  • 2026-07-06 发布于重庆
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CN119247114A 一种用于检测集成电路性能的测试方法 （电子科技大学成都学院）.pdf

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN119247114A

    (43)申请公布日2025.01.03

    (21)申请号202411795671.1

    (22)申请日2024.12.09

    (71)申请人电子科技大学成都学院

    地址610000四川省成都市高新区百叶路1

    号

    (72)发明人史勤刚张佳芬高娟毛敏

    (74)专利代理机构成都市壹为知识产权代理事

    务所(普通合伙)51378

    专利代理师陈岚崴

    (51)Int.Cl.

    G01R31/28(2006.01)

    权利要求书2页说明书8页附图2页

    (54)发明名称

    一种用于检测集成电路性能的测试方法

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