金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法.docx

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ICS77.040CCSH17

中华人民共和国国家标准

GB/T47080—2026

金刚石单晶抛光片位错密度的测试方法

Testmethodfordislocationdensityofdiamondsinglecrystalpolishedwafer

2026-01-28发布2026-08-01实施

国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会

发布

GB/T47080—2026

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则

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