CN119887758B 一种基于灰度共生矩阵的弱特征表面缺陷检测方法、终端及存储介质 （常熟理工学院）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN119887758B

(45)授权公告日2025.07.08

(21)申请号202510361410.7

(22)申请日2025.03.26

(65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN119887758A

(43)申请公布日2025.04.25

(73)专利权人常熟理工学院

地址215500江苏省常州市南三环路99号

(72)发明人李芯蕊时辰姚崇棋孔瑜

刘畅王思源席伟阳王振宇

胡程尧赵陈陈张业铭李昱妍况亚伟杨希峰张德宝

(74)专利代理机构南京新慧恒诚知识产权代理

有限公司32424

专利代理师郭晗徐彪

(51)Int.Cl.

G06T7/00(2017.01)

G06T7/136(2017.01)

G06V10/82(2022.01)

G06N3/0464(2023.01)

G06N3/08(2023.01)

G06V10/762(2022.01)

(56)对比文件

CN117456358A,2024.01.26

CN119379660A,2025.01.28审查员孙凤

权利要求书3页说明书8页附图3页

(54)发明名称

一种基于灰度共生矩阵的弱特征表面缺陷

检测方