CN119916185A 芯片温度特性测试方法、系统及设备 （蓝芯存储技术(赣州)有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119916185A

(43)申请公布日2025.05.02

(21)申请号202510397615.0

(22)申请日2025.04.01

(71)申请人蓝芯存储技术（赣州）有限公司

地址341000江西省赣州市赣州经济技术

开发区江西（赣州）跨境电商产业园

（振兴大道）三期6#楼1楼

(72)发明人庄晓鹏谢院生郑传锋江雄

(74)专利代理机构深圳汉林汇融知识产权代理事务所(普通合伙)44850

专利代理师刘临利

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)

G06F18/2433(2023.01)

G06F18/2415(2023.01)

G06N5/04(2023.01)

权利要求书3页说明书13页附图3页

(54)发明名称

芯片温度特性测试方法、系统及设备

(57)摘要

CN119916185A本发明涉及芯片测试的技术领域，提供了芯片温度特性测试方法、系统及设备，包括获取芯片的瞬态热响应数据和稳态热分布数据，对瞬态热响应数据进行特征提取，得到特征热模式集合后，利用特征热模式集合对稳态热分布数据进行热传递分析，得到长期温度漂移曲线；对长期温度漂移曲线进行评估，得到热可靠性评分和热退化预测参数，基于热可靠性评分和热退化预