《集成电路测试》课件 二、ADC0804功能测试实现流程.pptxVIP

项目8ADC0804芯片测试

【任务27】添加标题项目8ADC0804芯片测试二、ADC0804功能测试实现流程1．功能测试实现流程（1）FORCE1端输出5V，供电给ADC0804芯片的VCC；（2）打开继电器1、2、3，即VREF端接2.5V、VIN（+）接FORCE2端；（3）FORCE2端输出5V电压给VIN（+），即ADC0804芯片应输出满量程的数据；（4）开始A/D转换，转换前测量引脚是否为高，若为高，则表示功能正常，继续下面的测量，反之则认为芯片功能有异常；（5）转换结束，测量引脚是否为低，若为低，则表示功能正常，继续下面的测量，反之则认为芯片功能异常；（6）