《集成电路测试》课件 5-CD4511开短路测试实现流程.pptxVIP

项目3CD4511芯片测试

添加标题项目3CD4511芯片测试二、CD4511开短路测试实现流程1．开短路测试实现方法CD4511芯片开短路测试方法，是在芯片的被测引脚加入适当的小电流，然后测试该引脚的电压。在向被测引脚施加?100uA电流进行开短路测试时，被测引脚的电压有以下3种不同情况。（1）引脚正常连接：电压在?1.2～?0.3V，大约在?0.6V左右，表示CD4511芯片为良品。（2）引脚出现短路：电压为0V，表示CD4511芯片内部电路有短路，通常是被测引脚与地之间有短路。（3）引脚出现开路：电压为无限小（负压），若钳位电压设置为4V，引脚出现开路时的电压为?4