烧结工艺对LLZO固态电解质片界面阻抗影响的研究与优化论文.docx

烧结工艺对LLZO固态电解质片界面阻抗影响的研究与优化论文

**摘要**

烧结工艺作为LLZO（锂锂铝酸锌）固态电解质片制备的核心环节，其微观结构调控直接影响界面阻抗性能。本研究通过系统优化烧结温度、保温时间和气氛条件，结合电化学测试与微观表征，揭示了烧结工艺对LLZO固态电解质片界面阻抗的影响机制，并提出优化策略。研究发现，烧结温度过高易导致晶粒过度生长，界面缺陷增多；保温时间不足则使致密度降低，离子传输路径受阻；气氛控制不当会引入杂质相，进一步加剧界面反应。基于此，本文提出在850℃下烧结3小时，采用惰性气氛保护，可有效提升LLZO固态电解质的界面稳定性与电导率，为高性能固态锂电池的开发提