CN119245517A 一种测试台及测量方法 （上海隐冠半导体技术有限公司）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119245517A

(43)申请公布日2025.01.03

(21)申请号202411783136.4

(22)申请日2024.12.06

(71)申请人上海隐冠半导体技术有限公司

地址201206上海市浦东新区自由贸易试

验区金海路1000号47幢1楼

(72)发明人禹洪亮吴火亮郝振洲

(74)专利代理机构上海思启睿知识产权代理有

限公司31547

专利代理师林志豪朱璟

(51)Int.Cl.

G01B11/00(2006.01)

G01B11/02(2006.01)

G01B11/24(2006.01)

F16F15/08(2006.01