基于Micro-LED的巨量转移缺陷检测与微显示驱动补偿算法设计.docxVIP

PAGE2

基于Micro-LED的巨量转移缺陷检测与微显示驱动补偿算法设计

摘要

Micro-LED显示技术凭借高亮度、低功耗和长寿命优势，被视为下一代显示核心方向。然而，巨量转移工艺中芯片缺失、位置偏移等缺陷导致良率不足70%，严重制约产业化进程。现有检测方法依赖人工目检或简单阈值分割，效率低且补偿策略粗放，无法实现像素级精准调控。本设计聚焦构建Micro-LED亮色度物理分布模型，开发基于深度学习的缺陷视觉检测算法，并设计动态电流补偿驱动策略。通过需求分析明确系统功能边界，总体设计采用模块化架构，详细设计实现缺陷检测与补偿核心算法，最终完成系统实现与验证测试。创新点在于融合亮色度模型与YOLOv5改进算法，提出自适应电流补偿机制，将缺陷识别准确率提升至98.5%，色度均匀性改善40%。第一章阐述研究背景与目标；第二章论证关键技术选型；第三章分析功能与非功能需求；第四章设计系统总体架构；第五章详述核心算法流程；第六章展示关键模块实现；第七章验证系统性能；第八章总结成果与展望。本设计为Micro-LED量产提供可落地的技术方案，兼具工程实用价值与理论拓展意义。

第一章绪论

1.1研究背景

Micro-LED显示技术在AR/VR、车载显示等领域需求激增，2023年全球市场规模达15亿美元。其核心工艺巨量转移需将百万级微米级LED芯片精准转移至背板，但工艺波动导致芯片缺失、