CN119985336A 无损检测及制造计量系统和方法 （昂图创新有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119985336A

(43)申请公布日2025.05.13

(21)申请号202510164935.1

(22)申请日2020.05.22

(30)优先权数据

62/851,9052019.05.23US

62/851,9292019.05.23US

(62)分案原申请数据

202080037979.32020.05.22

(71)申请人昂图创新有限公司地址美国马萨诸塞州

(72)发明人M·梅亨代尔M·阿尔维斯R·梅尔

(74)专利代理机构北京市汉坤律师事务所11602

专利代理师魏小薇吴丽丽

(51)Int.Cl.

G01N21/17(2006.01)

G01N21/21(2006.01)

G01N21/55(2014.01)

权利要求书2页说明书30页附图20页

(54)发明名称

无损检测及制造计量系统和方法

(57)摘要

CN119985336A公开了无损检测及制造计量系统和方法。通过无损系统和方法测量或检测样本。多个光脉冲从光源发射。这些光脉冲被分离成泵浦脉冲和探测脉冲。第一探测脉冲在第一泵浦脉冲到达样本的表面之后的第一持续时间之后到达该表面。第二泵浦脉冲在该第一探测脉冲之后的持续时间之后到达该表面。当该第二泵浦脉冲反射出该样本时