GBZ 107-2025 半导体器件　基于扫描的半导体器件退化水平评估标准立项发展报告.docx

半导体器件基于扫描的半导体器件退化水平评估标准立项发展报告

英文标题

StandardizationDevelopmentReport:SemiconductorDevices-Scanning-basedAssessmentofDegradationLevelsforSemiconductorDevices

摘要

随着半导体器件在航空航天、汽车电子、通信系统及消费电子等关键领域的广泛应用，其长期可靠性与安全性成为行业关注的焦点。器件退化作为影响使用寿命和系统稳定性的核心因素，亟需一套科学、统一且可量化的评估标准。当前，行业内对半导体器件退化水平的评估方法多样，但