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CN119198774A 一种晶体内部体缺陷的检测方法 （中南大学）.pdfVIP

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  • 2026-07-26 发布于重庆
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CN119198774A 一种晶体内部体缺陷的检测方法 （中南大学）.pdf

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN119198774A

    (43)申请公布日2024.12.27

    (21)申请号202411720455.0G06T7/62(2017.01)

    G06T7/73(2017.01)

    (22)申请日2024.11.28

    G06V10/774(2022.01)

    (71)申请人中南大学

    G06V10/776(2022.01)

    地址410083湖南省长沙市岳麓区麓山南G06V10/82(2022.01)

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