第4讲-材料的结构检测-射线衍射测试方法报告说课讲解.ppt

第4讲--材料的结构检测(2)-X射线衍射测试方法报告;;;;;（一）X射线的产生与X射线谱;（2）连续X射线谱;（3）特征X射线谱;

特征X射线谱及管电压对特征谱的影响

钼钯K系1-20kV2-25kV3-35kV;特征谱线波长与物质原子序数的关系由莫塞菜(Mose1ey)定律表述，即

式中：c与?——与线系有关的常数。

特征X射线的产生遵从光谱选律。

特征X射线也有多重线系，如图所示之K?1与K?2为K?的双重线，分别由L2及L3层电子向K层跃迁而产生。;（4）X射线的衰减与防护;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;4.2.2X射线衍射方法;（一）多晶体衍射方法;德拜相机构造示意图;

德拜法的衍射花样;样品制备;底片的安装;衍射花样的测量和计算;若?用角度表示

对于背反射区（2?90?），有2L?＝R·4?（?为弧度）。

若?用角度表示，则有

式中，?＝90?－?。

当相机直径2R＝57.3mm时，由上述二式有

应用上述各式计算?时，?值受相机半径误差和底片收缩误差等的影响。;衍射花样指数标定;立方晶系衍射花样指数标定;立方系不同结构类型晶体因系统消光规律不同，其产生衍射各晶面的m顺序比也各不相同。

立方晶系衍射晶面及其干涉指数平方和(m)

;（2）衍射