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现代材料分析测试技术试卷及答案

考试时间：______分钟总分：______分姓名：______

一、选择题（每题2分，共20分）

1.下列关于X射线产生的描述，正确的是（）

A.高速电子撞击靶材时，原子内层电子跃迁产生特征X射线

B.连续X射线的波长与靶材原子序数无关

C.特征X射线的波长取决于加速电压

D.X射线管中靶材通常选用高原子序数元素

2.布拉格方程2dsinθ=nλ中，参数d表示（）

A.入射X射线波长

B.晶面间距

C.衍射级数

D.入射角

3.扫描电镜（SEM）中，二次电子（SE）的主要特点是（）

A.能量高，产额与样品原子序数正相关

B.能量低，对表面形貌敏感

C.来自样品原子核弹性碰撞

D.可用于成分定量分析

4.透射电镜（TEM）样品制备的关键要求是（）

A.样品厚度需小于电子束穿透深度

B.表面需喷镀导电层

C.尺寸需大于1mm

D.无需考虑晶体取向

5.红外光谱（IR）与拉曼光谱（Raman）的互补性主要体现在（）

A.IR适用于非极性分子，Raman适用于极性分子

B.IR检测偶极矩