TIAWBS 027—2026碳化硅单晶抛光片堆垛层错的测试方法.docxVIP

  • 0
  • 0
  • 约3.01千字
  • 约 6页
  • 2026-07-30 发布于河南
  • 举报

TIAWBS 027—2026碳化硅单晶抛光片堆垛层错的测试方法.docx

ICS77.040

CCSH17

团体标准

T/IAWBS027-2026

碳化硅单晶抛光片堆垛层错的测试方法

Testmethodforstackingfaultofpolishedmonocrystallinesiliconcarbidewafers

2026-07-07发布

2026-07-14实施

中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟发布

T/IAMBS027—2026

1

目次

前言 Ⅱ

您可能关注的文档

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档