原创力文档联讯仪器
CT8201系列
激光器芯片双温测试系统
技术资料V.2.6
CT8201激光器芯片双温测试系统
联讯仪器CT8201激光器芯片双温测试系统是针以及前向光光谱测试。支持两个温区测试：两个测
对半导体DFB或EML激光器在常温、高温两个不同试平台以支持高温/常温或低温/常温并行测试。
温度下进行的光电特性LIV扫描测试、EA扫描测
试、光谱扫描测试。系统主要由晶圆供给区、芯片
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