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高层数3DNAND闪存读电压偏移追踪与LDPC软信息生成

摘要

随着3DNAND闪存堆叠层数持续攀升，存储单元间的电学干扰加剧，导致阈值电压分布发生严重畸变与偏移，传统固定读电压方案已无法保证数据可靠性。尤其在QLC/TLC混合编程模式下，电压窗口极度压缩，对读操作的精确性提出严峻挑战。本设计旨在解决高层数3DNAND闪存在高原始误码率（RAWBER）条件下的可靠读取问题。

本文设计并实现了一套集成于SSD控制器固件中的读电压优化与软判决信息生成系统。首先，通过动态ReadRetry电压扫描机制，实时追踪并补偿由电荷泄漏、耦合效应引起的电压偏移。其次，针对混合编程单