CN119199485A 基于无损检测技术的集成电路封装质量评估方法及系统 (北京炎黄国芯科技有限公司).pdfVIP

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  • 2026-08-06 发布于重庆
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CN119199485A 基于无损检测技术的集成电路封装质量评估方法及系统 (北京炎黄国芯科技有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119199485A

(43)申请公布日2024.12.27

(21)申请号202411697247.3

(22)申请日2024.11.26

(71)申请人北京炎黄国芯科技有限公司

地址100098北京市海淀区中关村北大街

127-1号1层1218室

(72)发明人郭虎李建伟王才宝

(74)专利代理机构北京谱帆知识产权代理有限

公司11944

专利代理师董伟燕

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)

G01R31/308(2006.01)

权利要求书5页说明书19页附图2页

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