YST 1754-2025 颗粒硅表面粉尘的测定 浊度法标准立项发展报告.docxVIP

颗粒硅表面粉尘的测定浊度法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:DeterminationofSurfaceDustonGranularSiliconbyTurbidimetricMethod

摘要

关键词：颗粒硅；表面粉尘；浊度法；有色金属行业标准；检测方法；质量控制

Keywords:GranularSilicon;SurfaceDust;TurbidimetricMethod;Non-ferrousMetalsIndustryStandard;TestingMethod;QualityControl

1引言

1.1研究背景

多晶硅是光伏产业和电子信息产业的基础性功能材料，其形态主要分为棒状硅（西门子法生产）和颗粒硅（硅烷流化床法生产）两大类。颗粒硅因其流动性好、连续加料便捷、能耗低等显著优势，近年来在光伏行业中的应用比例持续攀升。然而，颗粒硅在生产、输送和包装过程中，表面不可避免地会附着一定量的粉尘颗粒物。这些粉尘若未得到有效控制，将直接影响下游拉晶环节的成晶率、硅片质量以及最终光伏电池的光电转换效率。

目前，国内外尚未有统一的颗粒硅表面粉尘测定方法标准。各生产企业和用户单位多采用自建方法，存在操作流程差异大、结果可比性差、仪器配置要求不一等问题。部分企业采用人工目视估算