T_COS 029-2025 电子封装用高硅铝合金化学分析方法痕量杂质元素的测定辉光放电质谱法.docxVIP

ICS01.040.01C65

T/COS

团体标准

T/COS029-2025

电子封装用高硅铝合金化学分析方法痕量杂质元素的测定辉光放电质谱法

Methodsforchemicalanalysisofhighsiliconaluminumalloyfor

electronicpackagingDeterminationoftraceimpurityelements

contents—Dlowdischargemassspectrometry

2025-10-01发布2025-10-01实施

中国兵工学会发布

T/COS029-2025

I

目录

前言 1

1范围 1

2规范性引用文件 2

3术语和定义 2

3.1 2

背景空白样品 2

3.2 2

质量校正标准样品 2

3.3 2

仪器检测器校正标准样品 2

3.4 2

ICE 2

3.5 2

半定量分析法 2

4原理 2

5试剂和材料 3

5.1无水乙醇(