CN119147946A 一种半导体激光器芯片的可靠性测试方法 (度亘核芯光电技术(苏州)有限公司).pdfVIP

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  • 2026-08-14 发布于重庆
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CN119147946A 一种半导体激光器芯片的可靠性测试方法 (度亘核芯光电技术(苏州)有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119147946A

(43)申请公布日2024.12.17

(21)申请号202411659394.1

(22)申请日2024.11.20

(71)申请人度亘核芯光电技术(苏州)有限公司

地址215000江苏省苏州市工业园区金鸡

湖大道99号东北区32幢

(72)发明人陈王义博唐松杨国文

(74)专利代理机构北京超凡宏宇知识产权代理

有限公司11463

专利代理师曹灿

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)

权利要求书3页说明书9页附图5页

(54)发明名称

一种半导体激光器芯片

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