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镁及镁合金化学分析方法第X部分：铁、硅含量的测定分光光度

法新旧标准差异化分析

一、标准基本信息

•标准名称：镁及镁合金化学分析方法第X部分：铁、硅含量的测定分光光度法

•标准号：GB/T486-2026

•发布日期：2026年5月25日

•实施日期：2026年12月01日

•标准类型：首次制定的国家标准（推荐性）

•归口单位：全国有色金属标准化技术委员会

•主管部门：工业和信息化部

二、标准制定背景与意义

近年来，随着我国高端制造业的蓬勃发展，镁及镁合金凭借其低密度、高比强度、优异的减震

性能及良好的电磁屏蔽特性，在航空航天、汽车轻量化、3C电子产品以及高端医疗器械等前

沿领域得到了极其广泛的应用。在这些关键应用中，材料的微观组织与宏观性能往往对杂质元

素及特定合金元素的含量极为敏感。其中，铁（Fe）和硅（Si）作为镁合金中至关重要的控制

元素，其含量的微小波动均会对材料性能产生深远影响。铁是镁合金中危害性最大的杂质元素

之一，极易与锰等元素形成高熔点化合物，显著降低镁合金的耐腐蚀性能和力学性能；而硅的

含量则直接关系到镁合金的铸造流动性、高温蠕变抗力以及耐磨性能。因此，精准、快速地测

定铁、硅含量，是保障镁合金产品质量的核心环节。

在成分分析技术方面，分