CN119395510A 一种芯片测试方法、装置及电子设备 (浙江帕奇伟业半导体有限公司).pdfVIP

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  • 2026-08-16 发布于重庆
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CN119395510A 一种芯片测试方法、装置及电子设备 (浙江帕奇伟业半导体有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119395510A

(43)申请公布日2025.02.07

(21)申请号202411677607.3

(22)申请日2024.11.22

(71)申请人浙江帕奇伟业半导体有限公司

地址314102浙江省嘉兴市嘉善县西塘镇

富康路12号A3厂房一楼东面

(72)发明人徐廷宁王培吉娄骏彬鹿业波

何亦昕章天雨

(74)专利代理机构嘉兴中创致鸿知识产权代理

事务所(普通合伙)33384

专利代理师叶斌

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)

权利要求书3页说明书14页附图3页

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