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芯片测试员一级（初级）上岗考试题库及详细答案.docx

芯片测试员一级（初级）上岗考试题库及详细答案

考试说明

1、本试卷为芯片测试员一级初级上岗考核专用试题，贴合半导体封测厂一线实操工作，无理论冗余内容。

2、考试时长：60分钟；满分：100分；合格分数线：80分。

3、适用人群：新人入职、一级测试员定级、岗前技能考核。

4、题型：选择题、判断题、简答题、实操问答题，内容贴合产线日常操作、品质规范、设备基础常识。

一、单项选择题（共20题，每题2分，共40分）

1、芯片测试工序中，下列哪项是一级测试员最核心的基础工作（）

A、芯片电路设计优化B、按流程完成芯片电性测试、数据记录与不良品分拣

C、设备主板维修D、测试程序编写

2、半导体芯片测试中，常用的基本电性测试项目不包括（）

A、开路测试B、短路测试C、外观喷漆测试D、漏电测试

3、产线测试前，首先需要确认的核心条件是（）

A、车间灯光亮度B、设备校准状态、治具清洁、物料型号一致

C、电脑是否联网D、工位卫生是否达标

4、芯片测试过程中，发现单颗芯片测试NG（不良），正确的第一步操作是（）

A、直接丢弃不良芯片B、暂停测试，复检确认，区分不良类型并单独标识

C、忽略继续测试D、私自调整设备参数重试

5、ESD防护是芯片测试的重中之重，车间作业时必须佩戴的核心防护用品是（）