CN119510953A 一种htrb老化测试调度方法、装置、电子设备和存储介质 （上海轩田智能科技股份有限公司）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119510953A

(43)申请公布日2025.02.25

(21)申请号202411681044.5

(22)申请日2024.11.22

(71)申请人上海轩田智能科技股份有限公司

地址201109上海市闵行区瓶安路1259号4

幢2层

(72)发明人陈远明丁亚鹏周海敏聂守信

石磊

(51)Int.Cl.

G01R31/00(2006.01)

G01R31/26(2020.01)

权利要求书2页说明书8页附图3页

(54)发明名称

一种HTRB老化测试调度方法、装置、电子设

备和存储介质

(57)摘要