CN119511034A 结合应用场景的芯片测试分选方法及系统 （南通芯好半导体有限公司）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119511034A

(43)申请公布日2025.02.25

(21)申请号202411659887.5G06F16/903(2019.01)

(22)申请日2024.11.20

(71)申请人南通芯好半导体有限公司

地址226000江苏省南通市崇川区唐闸镇

街道市北高新路259号

(72)发明人张伟

(74)专利代理机构南通国鑫智汇知识产权代理

事务所(普通合伙)32606

专利代理师顾新民

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)

B07C5/00(2006.01)

G06F18/213(202