IEC TR 635712025 半导体器件 从“部件”到“系统”寿命转换的估算方法标准立项发展报告.docx

半导体器件从“部件”到“系统”寿命转换的估算方法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:SemiconductorDevices–EstimationMethodforLifetimeConversionfromPARTtoSYSTEM

摘要

随着半导体技术在汽车电子、工业控制、航空航天等关键领域的广泛应用，系统级可靠性设计对器件寿命评估提出了更高要求。传统半导体器件寿命评估通常基于单一“部件”（PART）层面进行，而实际工程应用中器件在“系统”（SYSTEM）层面所承受的电、热、机械等多物理场耦合应力远复杂于部件级测试