STM32微控制器ADC过采样技术应用指南.pdfVIP

AN5537

应用说明

如何使用ADC过采样技术提高STM32微控制器的信噪比

简介

意法的所有微控制器都嵌入了一个具有给定分辨率（位数）和采样率的ADC（模数转换器）。

对于大多数应用程序来说，这种分辨率是足够的，但在某些需要更高精度的情况下，可以通过实现输入信号的过采样和降采

样来避免使用外部ADC解决方案及其带来的应用功耗增加。

本应用笔记介绍了过采样原理，并描述了使用特定单元在某些STM32微控制器上实现硬件和软件过采样的方法。然后从功耗的

角度比较了这两种方法。

对于软件实现，描述了两种提高ADC分辨率的方法。这些方法基于使用ADC的最大采样率对输入信号进行过采样，并对输入信

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号进行降采样以增强其分辨率。随本应用笔记的嵌入式软件（STSW‑STM32014或X‑CUBE‑ADCOVSP）了这两种方