GBT 45468-2025 微束分析 岩石微孔隙聚焦离子束-扫描电镜三维成像分析方法标准立项发展报告.docx

微束分析岩石微孔隙聚焦离子束-扫描电镜三维成像分析方法标准立项发展报告

StandardizationDevelopmentReport:MicrobeamAnalysis—FocusedIonBeam-ScanningElectronMicroscopeThree-DimensionalImagingAnalysisMethodforRockMicro-Pores

摘要

随着非常规油气勘探开发向深层、超深层和致密储层持续拓展，岩石微孔隙结构的精确表征已成为资源评价与高效开发的关键技术瓶颈。聚焦离子束-扫描电镜（FIB-SEM）双束系统作为纳米尺度三维成像分析的核心手段，近年来在国内外地球科学领域获得了广泛应用，然而长期以来我国在该领域缺乏统一的国家标准，导致不同实验室间的分析结果在可比性和重复性方面存在显著差异。本报告系统阐述了国家标准GB/T45468-2025《微束分析岩石微孔隙聚焦离子束-扫描电镜三维成像分析方法》的立项背景、编制过程、核心技术内容和应用前景。该标准由全国微束分析标准化技术委员会归口管理，于2025年3月28日由国家标准化管理委员会正式发布，定于2025年10月1日起实施。标准系统规定了FIB-SEM三维成像分析的基本原理、仪器设备要求、样品制备方法、成像参数优化、图像序列采集、三维重构及定量分析等全流程技术规范，填补