原创力文档半导体器件机械和气候测试方法第7部分：内部水分含量测量和其他残留气体的分析标准立项发展报告
StandardizationDevelopmentReport:SemiconductorDevices–MechanicalandClimaticTestMethods–Part7:InternalMoistureContentMeasurementandtheAnalysisofOtherResidualGases
摘要
关键词：半导体器件；内部水分；残留气体；机械与气候试验；可靠性测试；IEC标准；气相色谱法；封装质量
Abstract
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